X荧光分析仪的特点和发展历程

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   仪器外校X 射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。X 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要分析手段，也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。同时，X 射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面首选仪器之一。

1、在计量检测微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出最具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。
2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，
从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。
3、当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由
此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。
4、逃逸峰：由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素
的含量较高或者能量较高，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量
值减去Si能量值的地方回产生一个峰，此峰即为逃逸峰。
5、在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。

   我国X射线荧光光谱分析技术的建立始于20世纪50年代末和60年代初，80、90年代，我国学者为满足生产和科研工作的需要，引进了众多的一流X射线荧光光谱仪，制定了大量行之有效的试样分析方法，国内外学术交流不断增多，有利地推动了我国X荧光光谱分析的发展。现代 X 射线荧光谱仪，无论是波长色散 X射线荧光光谱仪还是能量色散 X 射线荧光光谱仪均配置了样品自动更换器。它采用条形码 自动识别技术，用磁抓或真空吸盘装置，自动更换样品，完成全部设定样品的测量。在一次分析中，最多可完成近百个样品的自动更换和测量。谱仪的调试和维修远程化过去，谱仪运行一定时间后的调试和仪器故障的诊断、维修长期困扰着用户。现在对于谱仪的众多参数的调节可全由计算机控制，仪器故障的诊断大多由计算机来完成，而且可通过通信网络直接与仪器制造公司的维修部门联系，由工程师进行仪器维修故障的远程诊断和直接的远程操作与调试。其调试过程与现场操作几乎相同。

   我司服务宗旨：科学.公正.准确.高效。我司将以最合理的价格.最优质的服务,最高品质的检测技术为广大顾客服务. 二十四小时在线服务，欢迎您来电咨询.洽谈! 您的选择将会换来百分百的服务！选择我们就是选择放心！

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