膜厚仪校准——找博罗一站式服务

东莞计量检测膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。

一、膜厚仪操作注意事项
1、 测试前注意清洁样品表面。
2、注意程序选择的正确。
3、 保证X光不受干扰的到达探测器，即样品位置放置的准确性。
4、 更换灯泡时注意不要用手直接接触，要用干的软布。
5、 避免短路：有液体进入仪器时，马上短开电源，在重新使用前请技术人员全面

二、萤光X射线装置（XRF）
1、深圳校准台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值·
2、X射线的能量穿过金属镀层的同时，金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。
3、通过这样的原理，我们设计出：仪器校正膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪，又称金属涂镀层厚度测量仪，其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪，也是薄膜表层金属元素分析仪，因响应全球环保工艺准则，故目前市场上最普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。

三、X射线衍射装置（XRD）
简单地说计量检测萤光X射线荧光膜厚仪装置(XRF)和X射线衍射装置(XRD)有何不同,萤光X射线装置(XRF)能得到某物质中的元素信息（物质构成,组成和镀层厚度）,X射线衍射装置(XRD)能得到某物质中的结晶信息。

具体地说,比如用不同的装置测定食盐(氯化钠=NaCl)时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠(Na)和氯(Cl)构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由氯化钠(NaCl)的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置(XRD为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置(XRD)就很难判定,必须先用萤光X射线装置(XRF)得到元素信息后才能进行定性。

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